Оснащенная полностью модернизированной оптической системой, система синтеза и склейки изображений оптимизирована синхронно.
Четыре основных параметра качества изображения значительно улучшены по сравнению с традиционными микроскопами, включая оптическое разрешение, цветопередачу, качество многолучевой визуализации и четкость пикселей.
Микротекстуры, металлографические структуры и мельчайшие царапины могут быть четко отображены без искажений или цветовых аберраций.
Функция синтеза ультра-глубины резкости позволяет получать многослойные изображения в заданном диапазоне по оси Z, записывает данные о высоте и затем синтезирует полнофокусные изображения облака точек в истинных цветах.
Поддерживает 3D-измерения высоты паяных соединений, высоты шариков BGA, профиля, объема, шероховатости поверхности и разницы высот, а также генерирует карты облака высот в псевдоцветах.
Встроенные 7 типов режимов освещения: коаксиальное освещение, кольцевое освещение, боковое освещение, нижнее просвечивающее освещение, поляризация, дифференциальная интерференционная контрастность (DIC) и четырехцветное освещение.
Различные типы освещения подходят для различных материалов: гладких пластин, диффузных металлов, прозрачных кристаллов, текстур, вызванных напряжением, и микроцарапин, что позволяет эффективно выявлять скрытые дефекты.
Поддерживает 2D-склейку изображений и 3D-склейку по глубине, максимальное количество пикселей при склейке достигает более 10 миллиардов.
Встроенное окно предварительного просмотра фокусировки в реальном времени отображает относительное положение между объективом и образцом, а также содержит предупреждающую линию, предотвращающую столкновение, что упрощает наблюдение за боковыми стенками.
Полный набор функций 2D- и 3D-измерений. 3D-измерения включают разницу высот, профиль, объем, шероховатость поверхности Ra/Sa. Все данные измерений могут быть экспортированы в таблицы.