Powered by Made-in-China.com
Лазерный микроскоп для измерения размеров микрошаблонов на полупроводниковых пластинах
85 000,00 $
1 Комплект
80 000,00 $
2+ Комплекты
Технические характеристики изделия
лазерная линза модель
диапазон линзы лазера/мкм
разрешение по оси z/нм
Профиль товара
Индивидуализация
ДоступныйПослепродажное обслуживание
онлайн-поддержка видеоГарантия
1 годМодель №.
KC-X3000Тип
СтереомикроскопМобильность
НастольнаяСтереоскопический эффект
Стереоскопический эффектВид источника света
ЛазернаяПрименение
Биомедицинские исследования, Анализ материаловедения, Промышленная инспекция и сборка, Образование и просвещение, Судебная и судебно-экспертная идентификация, Гемология и минералогия, промышленностиПринцип
ОптическийПринцип оптики
Дифференциальный Вмешательство контрастный микроскопсфокусируйте диапазон движения по оси z
100 ммрежим привода по оси z
двигательизмерение разрешения камеры
1200Wизмерение максимального fps камеры
28fpsцп
intel i7внутренняя память
32 гбхранение
твердотельный накопитель 1 тбразрешение экрана
3840×2160размер дисплея
27 дюймоврабочая температура окружающей среды
влажность окружающей средывлажность окружающей среды
5%~80%rh,no конденсацияТранспортная Упаковка
картонная коробкаХарактеристики
индивидуальныйТорговая Марка
катматикПроисхождение
КитайОсновные характеристики
Интегрированная конструкция 3-в-1, объединяющая три основные функции: сканирование рельефа, ультраглубокое построение изображений и склейка изображений, а также 3D-измерение в одном устройстве.
Он может заменить несколько устройств, включая оптический профилометр, микроскоп с ультрабольшой глубиной резкости, инструмент для измерения контуров и измерительный микроскоп, значительно снижая затраты на приобретение оборудования и занимаемое пространство.
Использует лазерную спектральную конфокальную технологию сканирования без физического контакта и без давления во время измерения, что позволяет избежать царапин, деформаций или загрязнения образцов.
Подходит для работы с хрупкими материалами, такими как кремниевые пластины, тонкие пленки, пористую медь и детали, напечатанные на 3D-принтере, для проведения неразрушающего контроля.
Предназначен для измерения шероховатости в микрометровом диапазоне, микротекстуры в миллиметровом диапазоне и геометрических отклонений на уровне метров.
Новая функция визуального выбора с глобальной навигационной камерой, позволяющая свободно переключаться между режимами навигации и измерения, а также выбирать область сканирования одним нажатием кнопки для больших площадей или небольших локальных участков.
Синхронная фокусировка измерительного и лазерного объективов обеспечивает автоматическую защиту от столкновений, значительно ускоряя фокусировку и повышая общую эффективность тестирования более чем на 50%.
Создает 3D-модели облака точек в истинных или псевдоцветах, позволяет одним нажатием кнопки экспортировать отчеты в форматах CSV, Excel, PDF, а также необработанные данные облака точек для обеспечения отслеживаемости.
Комплексное интеллектуальное программное обеспечение с полным набором инструментов для 2D- и 3D-измерений, поддерживающее пакетные вычисления для определения линейных размеров, контуров, разницы высот, объема/площади, шероховатости поверхности.
Совместим с различными материалами, включая прозрачное стекло, металл, пенополимер, полимер, полупроводниковые пластины и керамику.
Профиль компании
Сертиф.Тип Бизнеса: Производитель/Завод & Торговая Компания Сертиф.Возможности НИОКР: Доступна услуга ODM Сертиф.Параметры настройки: Кастомизация по образцам, Кастомизация из дизайнов, etc. Сертиф.Ближайший Порт: Shanghai PortСреднее время ответа: ≤9.23h
О нашей фабрике и истории нашего бизнеса
АдресFirst Floor, Building B, Fangyuan South Road No. 99, Jiangning Development Zone, Nanjing, Jiangsu, China
Площадь Завода3580 Квадратные Метры
Количество Работников294
Зарегистрированный Капитал10,000,000 RMB
Среднее Время Выполнения ЗаказаВремя Выполнения Заказа в Пиковый Сезон: 1-3 Месяца, Время Выполнения вне Сезона, 1-3 Месяца
Партнеры по цепочке поставок51
Наши производственные возможности и техническая экспертиза
Основные ТоварыЦифровые микроскопы, оптический микроскоп, 3D микроскоп, лазерный микроскоп, профилометр, конфокальная микроскопия, интерферометр с белым светом, лазерный допплеровский виброметр, бесконтактный тестер шероховатости, допплеровский виброметр
Производственные линии4
Производственные машиныCNC Centre
QA/QC Инспекторы8 people
Тип инспекции готовой продукции100% проверка(Визуальная проверка & Проверка работоспособности)
Метод проверки готовой продукцииИметь инструкции и постоянно их соблюдать
R&D Инженеры56 people
Прослеживаемость сырьяДа
Наш отраслевой опыт и послужной список в международном бизнесе
Основные РынкиСеверная Америка, Южная Америка, Восточная Европа, Юго-Восточная Азия, Африка, Океания, Средний Восток, Восточная Азия, Западная Европа
Новые продукты, выпущенные в прошлом году.Да
Наши сертификаты, стандарты и признание в отрасли
Сертификация Системы МенеджментаISO9001:2015, ISO45001:2018, ISO14001, Другие
Товар Q&A
Q:Какие проекты можно протестировать с помощью KC?
A:
3D-морфология, длина/угол/радиус/расстояние до центра, глубина/ступень, контур, шероховатость (Ra/Rz/Sa/Sz), плоскостность, объем/площадь, обнаружение дефектов, автоматическое создание отчетов. Поддерживает параллельный анализ нескольких устройств, параллельное сканирование и обработку, что удваивает эффективность.
Q:Какие образцы можно протестировать с помощью KC?
A:
Металл, графит, пластины, печатные платы из стекла, медные элементы, травленные структуры, электроды батарей, детали, подвергнутые штамповке, поверхности разрушения, прозрачные материалы, пористые материалы и мягкие материалы – все это можно протестировать. Приглашаем вас записаться для конкретных тестов и тестирования образцов, чтобы увидеть результаты.
Q:В чем разница между KC и обычными микроскопами и профилометрами?
A:
Обычные микроскопы могут только наблюдать; профилометр может повредить образец; KC-X3000 – это комплексная система измерений, обеспечивающая бесконтактное 3D-сканирование, измерение размеров, шероховатости и плоскостности с точностью на нанометровом уровне, без повреждения образца.
Q:Что такое KC-X3000?
A:
KC-X3000 – это высокоточный измерительный микроскоп, разработанный компанией Kathmatic, который объединяет сканирование морфологии, наблюдение с ультра-большой глубиной резкости и комбинированные измерения. Он использует спектральную конфокальную технологию для достижения бесконтактного, высокоточного 3D-микроскопического измерения.
Q:Высокоточный измерительный микроскоп KC-X3000, что подразумевается под термином "три в одном"?
A:
Устройство объединяет три основные функции: сканирование морфологии, наблюдение с ультра-большой глубиной резкости и комбинированные измерения. Одно устройство может заменить традиционные 3D-профилометры, микроскопы с ультра-большой глубиной резкости и приборы для измерения контуров, обеспечивая интегрированные операции наблюдения, сканирования и измерения.
Отправить Запрос
*Кому:
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.
Nanjing Kathmatic Technology Co., Ltd.*Содержание:
Ответы поставщиков будут отправлены по адресу ваш зарегистрированный адрес электронной почты
Вам также может понравиться
Передовой исследовательский микроскоп для анализа размеров микропор мембран
US$80,000.00-85,000.00
1 Комплект(MOQ)
Стереомикроскоп метрологического класса для измерения размеров микроструктур
US$80,000.00-85,000.00
1 Комплект(MOQ)
Полуавтоматический цифровой металлургический микроскоп для инспекции поверхности полупроводниковых пластин
US$100.00-10,000.00
1 шт.(MOQ)
Оптический исследовательский микроскоп для оценки размеров микропор мембран
US$80,000.00-85,000.00
1 Комплект(MOQ)
Усовершенствованный оптический микроскоп для анализа размеров микропор фильтрующей мембраны
US$80,000.00-85,000.00
1 Комплект(MOQ)
Mx-12r Вертикальный металлургический микроскоп для инспекции полупроводниковых пластин в лаборатории
US$100.00-10,000.00
1 шт.(MOQ)
Бошида Bd-Jl2001 280mmx270mm Экстра большой стадионный металлургический микроскоп для полупроводников и пластин
US$3,000.00-5,000.00
1 sets(MOQ)
Бинокулярный инспекционный стереомикроскоп для полупроводников (XTS-2021)
Цена Договорная
1 шт.(MOQ)
Промышленный металлургический микроскоп для анализа полупроводников, ПЛК, упаковки схем
US$1,200.00
100 Куски(MOQ)
Бинокулярный инспекционный стереомикроскоп для полупроводников (XTD-2021)
Цена Договорная
1 шт.(MOQ)
Тринокулярный стереоскопический микроскоп для полупроводников (XTZ-3021)
Цена Договорная
1 шт.(MOQ)
Бошида Bd-0655t-D1 6X-55X Бинокулярный Тринокулярный Стереоскопический Микроскоп для Инспекции Полупроводников
US$900.00-1,100.00
1 штуки(MOQ)





