Система измерения изображений многофункционального профилирования на субмикронном уровне для оценки микро геометрических параметров рабочей детали 3D

3D-морфология, длина/угол/радиус/расстояние до центра, глубина/ступень, контур, шероховатость (Ra/Rz/Sa/Sz), плоскостность, объем/площадь, обнаружение дефектов, автоматическое создание отчетов. Поддерживает параллельный анализ нескольких устройств, параллельное сканирование и обработку, что позволяет увеличить эффективность вдвое.

Металл, графит, кремниевые пластины, печатные платы из стекла, медные элементы, травленные структуры, электроды аккумуляторов, детали, подвергнутые штамповке, поверхности разрушения, прозрачные материалы, пористые материалы и мягкие материалы – все это можно протестировать. Мы приглашаем вас записаться на консультацию для обсуждения конкретных задач тестирования и проведения тестовых анализов образцов, чтобы вы могли увидеть результаты.

Обычные микроскопы позволяют только наблюдать; профилометр может повредить образец; KC-X3000 – это комплексная система измерений, которая обеспечивает бесконтактное 3D-сканирование, измерение размеров, шероховатости и плоскостности с точностью на нанометровом уровне, не повреждая образец.

KC-X3000 – это высокоточный измерительный микроскоп, разработанный компанией Kathmatic, который объединяет сканирование морфологии, наблюдение с очень большой глубиной резкости и комбинированные измерения. Он использует спектральную конфокальную технологию для достижения бесконтактных, высокоточных 3D-измерений.

Устройство объединяет три основные функции: сканирование морфологии, наблюдение с очень большой глубиной резкости и комбинированные измерения. Одно устройство может заменить традиционные 3D-профилометры, микроскопы с очень большой глубиной резкости и инструменты для измерения контуров, обеспечивая интегрированные операции наблюдения, сканирования и измерения.