Полностью автоматический тестер EL для проверки дефектов солнечных модулей

Обнаружение дефектов с использованием искусственного интеллекта: Применяет нейронные сети глубокого обучения для быстрой и надежной автоматической идентификации дефектов.

Высококачественная визуализация: Оснащена 24-мегапиксельными CMOS-камерами и промышленными камерами с разрешением 8K для обнаружения микротрещин.

Регулируемые параметры тестирования: Время экспозиции от 1 до 30 секунд, напряжение от 0 до 60 вольт и ток от 0 до 20 ампер – все параметры непрерывно регулируются.

Два ЖК-экрана диагональю 50 дюймов: Обеспечивают большой экран для быстрого и удобного просмотра деталей компонентов после съемки.

Интеллектуальное управление данными: Сохраняет изображения в папках, сгруппированные по типу дефекта/времени; поддерживает поиск, удаление и экспорт.

Поддержка индивидуальных производственных процессов: Совместима с традиционными, полуразрезанными, MBB, нахлестными, гетероструктурными и Topcon технологиями.

Глобальная сеть послепродажного обслуживания: Местные инженеры в США и Индии; время ответа – 6 часов на юге Индии и 12 часов на севере.

Прочная стальная конструкция: Высокая прочность и стабильность благодаря двойным направляющим и ремню из полиуретана для предотвращения царапин.